商品介绍应用范围
磁盘缺陷检测分析仪可以在实验室里，对生产线下来的磁盘进行离线分析。也可以用作对次品硬盘存储器里的磁盘（File Return）进行售后技术服务的原因分析。由于分析仪集成了多种检测手段，在自主开发的软件控制下，它能够使用灵敏的磁头快速及精确的定位磁盘上的缺陷，然后使用不同倍率的光学显微镜迅速的对缺陷进行分类和拍照，还可以使用原子力显微镜对极微小的缺陷进行纳米级的扫描成像。磁盘缺陷检测分析仪多样的检测手段和便利的操作，显著地提高了实验室里磁盘检测质量和分析的效率，从而可以为磁盘生产企业的质量提升提供帮助。
技术特点
此分析仪的其核心技术是一个稳定可靠的、可以同时对样品进行检测和定位分析的平台，是目前世界上第一个成功的把原子力显微镜和磁盘缺陷检测结合起来的综合性仪器。主要技术特点是：既能够快速的检测，还能够精确的定位，目前定位的精度为0.5um；通过自动控制，可以在很短时间里，对磁盘使用不同手段进行检测，从而可以提供高效和全面的检测报告；自主开发的软件，可以让磁盘检测安全可靠的自动运行，也可以对磁盘进行自由的手动检测。
经过三年多的研发测试和技术公关，目前该分析仪已在多个知名企业的实验室成功安装运行，性能稳定可靠。通过与客户的交流与讨论，研发小组也对此分析仪进行不断的功能更新和软件客户深度定制。同时，灵敏度更高、探测手段更高的新版磁盘缺陷分析仪也将在不久成功研制，并移交客户使用。
联系方式
联系单位：北京大学技术转移中心
联系人：杨松尧 刘笑一 黄牧青
电话：010-62751717
本文网址：http://www.cscip.cn/gaoxiaokeyanchengguochi/623.html